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IC靜電放電測試之Pin-to-Pin
日期:2025-06-22 05:28
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摘要:
IC靜電放電測試之Pin-to-Pin
靜電放電可能出現(xiàn)在IC的任何兩隻腳之間,若該兩隻腳之間無直接的相關(guān)電路,**共同使用的是VDD與VSS電源線相連接。ESD發(fā)生在不相干的兩支IC腳之間時,靜電放電電流會先經(jīng)由某部份的電路跑到VDD或VSS電源線上,再由VDD或VSS電源連接線跑到另一支IC腳,再由那支IC腳流出IC之外。若每一IC的每兩腳之間都要做測試,那麼一顆40 pin的IC便要有1560種排列組合的ESD測試,這太浪費測試時間。因此,改良式的測試方法如圖3.1-2所示,即所謂的Pin-to-Pin 測試。在該Pin-to-Pin 測試組合中,亦由於靜電放電的正負(fù)極性而分成兩種測試模式 :
如上圖所示,Pin-to-Pin 的靜電放電測試組合Positive-mode:正的ESD電壓出現(xiàn)在某一I/O 腳,此時所有其他I/O 腳皆一起接地,但所有的VDD腳與VSS腳皆浮接;Negative-mode:負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在某一I/O 腳,此時所有其他I/O 腳皆一起接地,但所有的VDD腳與VSS腳皆浮接。
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