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文章詳情
IC靜電放電測試之其它Pin位
日期:2025-06-20 22:39
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摘要:
IC靜電放電測試之其它Pin位
1、VDD-to-VSS的靜電放電測試
靜電放電也可能發(fā)生在VDD腳與VSS腳之間,因此對VDD腳與VSS腳有下列的ESD測試組合,其等效電路示意圖如下圖所示。
上圖 VDD-to-VSS 的靜電放電測試組合Positive-mode:正的ESD電壓出現(xiàn)在VDD腳,此時VSS腳接地, 但所有I/O 腳皆浮接;Negative-mode:負的ESD電壓出現(xiàn)在VDD腳,此時VSS腳接地, 但所有I/O 腳皆浮接。
2、Analog Pin的靜電放電測試
在類比(Analog) IC內(nèi)常有差動輸入級(Differential Pair),例如運算放大器(OP AMP) 的輸入級,如果該差動輸入級的正負輸入端都連接到IC的Pin時,這兩支輸入腳要另外單獨做靜電放電測試,以驗證該兩支輸入腳所連接的差動輸入級會不會被靜電放電所破壞,其等效電路示
上圖 Analog Pin 的靜電放電測試組合
Positive-mode:正的ESD電壓出現(xiàn)在差動輸入級的正輸入腳位,此時差動輸入級的負輸入腳接地, 但其他所有I/O 腳以及VDD與VSS腳皆浮接;
Negative-mode:負的ESD電壓出現(xiàn)在差動輸入級的正輸入腳位, 此時差動輸入級的負輸入腳接地, 但其他所有I/O 腳以及VDD與VSS腳皆浮接。
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靜電放電發(fā)生器
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