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        IC靜電放電測試之其它Pin位

        日期:2025-06-20 22:39
        瀏覽次數(shù):1849
        摘要:
         IC靜電放電測試之其它Pin位
        1、VDD-to-VSS的靜電放電測試
          靜電放電也可能發(fā)生在VDD腳與VSS腳之間,因此對VDD腳與VSS腳有下列的ESD測試組合,其等效電路示意圖如下圖所示。

            上圖 VDD-to-VSS 的靜電放電測試組合Positive-mode:正的ESD電壓出現(xiàn)在VDD腳,此時VSS腳接地, 但所有I/O 腳皆浮接;Negative-mode:負的ESD電壓出現(xiàn)在VDD腳,此時VSS腳接地, 但所有I/O 腳皆浮接。
        2、Analog Pin的靜電放電測試
          在類比(Analog) IC內(nèi)常有差動輸入級(Differential Pair),例如運算放大器(OP AMP) 的輸入級,如果該差動輸入級的正負輸入端都連接到IC的Pin時,這兩支輸入腳要另外單獨做靜電放電測試,以驗證該兩支輸入腳所連接的差動輸入級會不會被靜電放電所破壞,其等效電路示

        上圖 Analog Pin 的靜電放電測試組合
        1.     Positive-mode:正的ESD電壓出現(xiàn)在差動輸入級的正輸入腳位,此時差動輸入級的負輸入腳接地, 但其他所有I/O 腳以及VDD與VSS腳皆浮接;
        2.     Negative-mode:負的ESD電壓出現(xiàn)在差動輸入級的正輸入腳位, 此時差動輸入級的負輸入腳接地, 但其他所有I/O 腳以及VDD與VSS腳皆浮接。
            如想了解靜電放電發(fā)生器的詳細資料,可點擊鏈接:www.dgzhongsheng.com/ProductShow.asp。

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