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東莞市眾升儀器有限公司
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
GTEM-EMI 射頻電磁場(chǎng)輻射發(fā)射限值測(cè)試系統(tǒng)是依據(jù)IEC/EN61000-4-20標(biāo)準(zhǔn)推出，該測(cè)試系統(tǒng)為國(guó)內(nèi)開創(chuàng)，通過(guò)模擬自由空間、開闊場(chǎng)的測(cè)試條件，采用數(shù)理建模，三維數(shù)據(jù)采集計(jì)算方法，針對(duì)小體積電子電器產(chǎn)品，為解決廣大企業(yè)用戶能夠自行進(jìn)行電磁兼容EMI測(cè)試提供了一條經(jīng)濟(jì)、便捷、可行的預(yù)檢測(cè)測(cè)試途徑，可有效的評(píng)估電子設(shè)備對(duì)電磁環(huán)境的影響。
詳情介紹：
GTEM-EMI 射頻電磁場(chǎng)輻射發(fā)射限值測(cè)試系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)
1．工作頻率范圍：20～1000MHz
2．傳輸特性阻抗：50W
3．典型場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試范圍：30～120dBuV/m
2．傳輸特性阻抗：50W
3．典型場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試范圍：30～120dBuV/m
產(chǎn)品特點(diǎn)
1． 配置簡(jiǎn)單靈活，擴(kuò)展性強(qiáng)，操作便捷高效；
2． 可實(shí)現(xiàn)根據(jù)CISPR11、CISPR14、CISPR20、CISPR22進(jìn)行輻射發(fā)射限值測(cè)量的電子電器電磁兼容性能的預(yù)測(cè)試；
3． 測(cè)試結(jié)果擁有與暗室及開闊場(chǎng)測(cè)試環(huán)境下比較一致的結(jié)果。
系統(tǒng)組成
GTEM-EMI測(cè)試系統(tǒng)主要由以下幾部分組成：
1、 EMI接收機(jī)；
2、 場(chǎng)強(qiáng)監(jiān)視系統(tǒng)；
3、 操控及運(yùn)算軟件；
